Данный модуль состоит из:

  • Сканирующего туннельного микроскопа "Умка"
  • Оборудования для автоматической заточки зондов СТМ "Нанозонд"
  • Настольного электронного микроскопа Phenom World, модели PRO X/XL
  • Сканирующего нанотвердомера (наноиндентер) «НаноСкан 3D Стандарт»
  • Certus Optic U — совмещенные сканирующего зондового (СЗМ) и прямого оптического микроскопов
  • Плоскопараллельного устройства позиционирования и/или сканирования Ratis XYZ
  • Контроллера для пьезопозиционеров EG-1000
  • Спектрального эллипсометра (спектроэллипсометр) "ЭЛЬФ"
  • Машины трения универсальная МТУ-01
  • Установки для измерения электрических свойств
  • Кондуктометра КПЦ-026Т
  • Мини-анализатора размеров частиц «Photocor Mini»
  • Анализатора дзета-потенциала

Микроскопы с атомарным разрешением


Сканирующий туннельный микроскоп «Умка»

Позволяет в воздушной атмосфере исследовать рельеф проводящих и слабопроводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением, с помощью методов туннельной микроскопии.

СТК "Умка" является прекрасным инструментом не только для обучения практическим методам работы с наноразмерными структурами. Он с успехом используется в университетских и научных лабораториях для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того,  перспективным направлением является внедрение комплекса  в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии.

Характеристики предлагаемого сканирующего туннельного микроскопа позволяют использовать его в следующих целях:

  • осуществление фундаментальных и прикладных научно-исследовательских работ;
  • выполнение в производственных лабораториях работ, требующих оценки характеристик материалов и сред на атомно-молекулярном уровне и их анализа (в частности, для анализа состояния покрытий и поверхностей обработанных деталей; экспресс-анализа в заводских лабораториях и т.п.);
  • обучение студентов, аспирантов и дипломированных специалистов работам на атомно-молекулярном уровне.

Технические характеристики:

  • Разрешение атомарное, молекулярное 
  • Размер образца (мм) 8 х 8 х (0,5÷4,0)
  • Поле сканирования (мкм) 6 х 6 ±1
  • Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/ в режиме 1:10, (нм) 0,08/0,008
  • Диапазон высот (мкм) 1± 0,2
  • Шаг измерения по вертикали (нм) <0,02

Устанавливаемые параметры:

  • напряжение на туннельном зазоре (В) 0 ±  2,3
  • туннельный ток (пА) 60 ÷ 5000
  • Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ) 0,04

Параметры сигнала для туннельного промежутка: 

  • Форма сигнала произвольная;
  • программно-задаваемая
  • Частота (кГц) 10 ÷ 100
  • Время сканирования кадра 3*3 нм с атомарным разрешением, не более 7 сек
  • Время сканирования кадра 5*5 мкм, не более 4 мин
  • Время выхода системы на рабочий режим, не более 2 мин

Электропитание от сети переменного тока:

  • напряжение 220В
  • частота 50 Гц
  • Потребляемая мощность 50 Вт

Режимы работы:

  • сканирования по постоянному току;
  • сканирования с постоянной высотой;
  • измерение вольт-амперной характеристики поверхности.

Прочие параметры:

  • Габариты оборудования в упаковке: 590х240х390 мм.  
  • Вес оборудования в упаковке не более 10 кг.

Автоматическая заточка зондов для СТМ «Нанозонд»

«Нанозонд» на сегодня является уникальной по точности установкой, поскольку позволяет получать зонды с диаметром острия не более 5 нм. Использование таких зондов в существующих сканирующих туннельных микроскопах позволяет заметно улучшить качество сканов поверхностей,  исследуемых на атомно-молекулярном уровне.

Установка «Нанозонд» осуществляет заточку концов вольфрамовой проволоки способом электрохимического травления.

Технические характеристики:

  • Диаметр вольфрамовой проволоки 0.25 ÷ 0.5 мм
  • Время заточки зонда в зависимости от диаметра проволоки 1 ÷ 3 мин
  • Диаметр острия зонда не более 5 нм
  • Время выхода системы на рабочий режим не более 15 сек
  • Напряжение питающей электросети 220 ± 10% В
  • Потребляемая мощность не более 20 Вт
  • Режим работы травление с автоматическим отключением тока 
  • и выдвижением контейнера 
  • с готовым зондом
  • Вес оборудования в упаковке не более 2,5 кг
  • Габариты оборудования  в упаковке (примерно) 200х150х200 мм

Настольный электронный микроскоп Phenom World, модели ProX/XL

 

 

Phenom XL - настольный сканирующий электронный микроскоп с большим столом (ход стола до 100 х 100 мм). Максимальное увеличение 100 000х; разрешение 14 нм; ускоряющее напряжение 5, 10, 15 кВ (опционально до 20 кВ). Возможные опции: детектор вторичных электронов (по умолчанию имеется детектор обратно рассеянных электронов), ЭДС. 

Как и остальные модели, эта версия отличается простотой в использовании и высокой скоростью работы. Уже через 30 секунд после загрузки образца можно получить изображение с высоким разрешением.

Технические характеристики:

  • Особенности Оптическая камера: увеличение 3х-16х, цветная Цифровой зум: до 12х Сверхбыстрая загрузка образца: оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение - через 60 секунд.
  • Характеристики электронной пушки Катод из гексаборида церия CeB6 Ускоряющее напряжение: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ. Разрешение: <14 нм Источник электронов CeB6 Расширенный режим, позволяющий устанавливать ускоряющее напряжение в диапазоне от 4.8 кВ -15 кВ (20 кВ опционально). 
  • Предметный столик Предметный столик, моторизованный по Х и У размером 100х100 мм. Позволяет устанавливать образцы с максимальными размерами до 100х100 мм и высотой до 65 мм. В столике имеются отверстия для установки до 36 стандартных столиков диаметром 12 мм. Область сканирования 50х50 или 100х100 мм. Моторизованный Вцентрический столик с углами наклона от -15° до +90°, поворот на 360°, дополнительное перемещение на 30 мм по Х для Вцентрического положения. Диаметр образца до 37 мм и высота до 40 мм для наклона на 45°, диаметр образца до 30 мм, высота до 35 мм, для наклона на 90°. Возможна установка образцов большего размера без возможности наклона.
  • Рабочая камера нет
  • Детекторы Высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Детектор вторичных электронов.
  • Вакуумная система Держатель для образца является вакуумной камерой. Вакуум достигается за счет мембранного вакуумного насоса.
  • Дополнительные аналитические возможности Энергодисперсионный микроанализатор (кремниевый дрейфовый детектор), термическое охлаждение без жидкого азота. Столик для испытаний на растяжение/сжатие, нагрузка до 1000 Н, перемещение до 10мм, в комплексе с специализированным программным обеспечением для проведения циклических тестов и сохранения всех параметров испытания.
  • Управление системой Программный интерфейс на базе специализированного По Phenom для управления микроскопом. Монитор 19", поворотно-нажимная кнопка для управления. Дополнительный монитор, клавиатура, мышь, для управления программным комплексом для микроанализа.
  • Получение изображений Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP. Размер изображения: 456х456, 684х684, 1024х1024, 2048х2048.
  • Доступные программные функции Программный модуль Pro Sute, который позволяет использовать стандартные приложения: Automated Image Mapping -получение панорамных изображений. Remote User Interface - получение удаленного доступа к микроскопу. 3D Roughness Reconstruction - получение поверхности в виде 3D изображения и измерение шероховатости. Fibermetric - измерение микро и нано волокон. PoroMetric - автоматизированное измерение размеров пор, от 100 нм до 0.1 мм. ParticleMetric - измерение размеров и формы частиц.
  • Системные опции нет

Требования по установке:

  • Размеры и вес: модуль получения изображения 316(Ш)х587(Г)х625(В) 75 кг
  • мембранный вакуумный насос 145(Ш)х220(Г)х213(В) 4,5 кг
  • Источник питания 156(Ш)х300(Г)х74(В) 3 кг
  • Монитор 375(Ш)х203(Г)х395(В) 7,9 кг
  • Комплекс ProSute - монитор 19" с мини ПК и сетевым маршрутизатором 375(Ш)х250(Г)х395(В) 9 кг
  • Температура 15° С ~ 30° С
  • влажность <80%
  • электропитание 110-240 В, одна фаза, 50/60 Гц, потребляемая мощность 300 Вт (макс.)
  • Рекомендованный размер стола для установки прибора: 150х75 см, рассчитанный на нагрузку 100 кг.

Сканирующий нанотвердомер (наноиндентер) «НаноСкан 3D Стандарт»

Нанотвердомер для комплексного исследования физико-механических свойств в диапазоне нагрузок до 100 мН. Нанотвердомер оснащен оптическим микроскопом и моторизованным предметным столиком для позиционирования объекта исследования. Высокая степень автоматизации измерений позволяет существенно повысить производительность исследований. 

Технические характеристики:

  • Режимы измерений: Контактный динамический режим сканирования (рельеф поверхности / карта распределения модуля упругости). Шаг по XY: 1.5 нм ; Шаг по  Z:   0.15 нм 
  • Индентирование/склерометрия с максимальной нагрузкой до 100 гр.
  • Силовая спектроскопия
  • Динамическое наноиндентирование
  • Диапазоны измеряемых  значений:
  • Твердость: до 80 ГПа до 1000 Гпа
  • Модуль упругости: до 1000 Гпа
  • Поле сканирования: XY – до 100 мкм    Z - до 10 мкм 
  • Кантилевер: Пьезо-кантилевер 
  • Инденторы: Алмазная пирамида типа Берковича 
  • Оптическая система  высокого разрешения: Видеомикроскоп с регулировкой увеличения 260х-1800х
  • Размер образцов: до 100 х100 мм до 80 мм высотой до 5 кг по весу
  • Система  позиционирования  образцов: XY: до 100 мм с шагом  1 мкм, моторизованная Z: до 80 мм с шагом 40 нм, моторизованная

Certus Optic U — совмещенные сканирующий зондовый (СЗМ) и прямой оптический микроскопы

Certus Optic U – сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии.

В состав Certus Optic U входят:

  • сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; 
  • устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом;
  • прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа;
  • механическая Z-подвижка для объектива;
  • однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений;
  • устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; 
  • единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса;
  • программное обеспечение NSpec.

Преимущества Certus Optic U:

  • cканирующее основание Ratis (XY(Z) сканер) позволяет позиционировать объект исследований с точностью до нескольких долей нанометра;
  • cканирующая XYZ головка Certus позволяет установить зонд сканирующего зондового микроскопа точно над выбранным участком;
  • два режима сканирования. Сканирование образцом и сканирование основанием. В общем случае сканирование по XY проводится основанием, а по Z сканирующей головкой (опционально в комплекс устанавливается XYZ сканирующее основание);
  • cканирующая головка и основание – плоскопараллельные сканеры, лишенные традиционных искажений изображения при использовании сканера на пьезотрубках;
  • механическая подвижка для объектива и пьезоподвижка для точной фокусировки позволяют проводить точную фокусировку;
  • возможность получения 3D оптических изображений;
  • интеграция с прямым оптическим микроскопом позволяет проводить исследования непрозрачных образцов методиками на отражение света (опционально устанавливается подсветка для прозрачных образцов), использовать необходимые оптические методики исследования для выделения интересных с точки зрения исследователя объектов и наведения на них иглы СЗМ. В качестве оптического микроскопа может выступать продукция Olympus, Nikon и других производителей. Так же возможна интеграция СЗМ с уже имеющимися у исследователя микроскопами;
  • подставка снабжена независимыми системами позиционирования образца и головки, что позволяет проводить "грубое" позиционирование образца для выделения необходимой области или позиционирование сканирующей головки для наведения на объект исследования;
  • модульная конфигурация и открытый дизайн, позволяющие интегрировать Certus Optic с другим оптическим и спектральным оборудованием. 

Основные параметры

1. СЗМ

1.1   СЗМ головка

  • Встроенный XYZ сканер 
  • Поле зрения СЗМ (диапазон сканирования), μм: 100x100x15
  • Резонансные частоты XY, кГц: 1
  • Резонансные частоты Z, кГц: 7
  • СЗМ пространственное разрешение (XY, латеральное), нм: <1
  • СЗМ пространственное разрешение (Z, вертикальное), нм: <0.1
  • Остаточная нелинейность: <0.3%
  • Датчики перемещения
  • Тип датчиков: ёмкостные
  • Принцип измерения: время-цифровые преобразования   
  • Система подвода сканирующей головки
  • Минимальный шаг, μм: 1
  • Реализация системы подвода сканирующей головки: шаговые двигатели
  • Число шаговых двигателей: 3

1.2 Сканирующее основание

  • Встроенный XY плоско-параллельный сканер
  • диапазон сканирования/позиционирования XY(Z), μм:      100x100 (25 для Z- опционально)
  • Резонансные частоты XY(Z), кГц: 1  (7 - для Z)
  • Остаточная нелинейность: ≤0.3%
  • Датчики перемещения
  • Тип датчиков: ёмкостные
  • Принцип измерения: время-цифровые преобразования

1.3 Позиционирование образца: 

  • Диапазон "грубого" позиционирования образца, мм: 5x5 
  • Реализация системы "грубого" позиционирования: микровинты
  • Точность позиционирования, μм: ~ 5

2. Оптический микроскоп

2.1 Тип, марка и комплектация микроскопа

  • В базовой конфигурации установлен прямой оптический микроскоп Olympus BX 51

3. Позиционирование объектива

3.1 Грубое позиционирование

  • Реализация системы грубого позиционирования: механическая однокоординатная подвижка
  • Диапазон: 100 мм
  • Автоматизация: полное управление с компьютера

3.2 Точное позиционирование

  • Реализация системы точного позиционирования: однокоординатная пьезоподвижка
  • Диапазон перемещений, μm: 60
  • Резонансная частота, kHz: 0.5
  • Минимальный шаг перемещения, nm: 0.1
  • Максимальное отклонение от нормали на полном ходу: < 0.01°
  • Автоматизация: полное управление с компьютера с режимом автофокусировки

Плоскопараллельное устройство позиционирования и/или сканирования Ratis XYZ

 

 

Плоско параллельное устройство позиционирования и/или сканирования. Сканер представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно алюминиевого), в котором сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того,  сканер обладает высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.

Параметр Ratis XY Ratis XYZ
диапазон перемещений по XY, ?m 200 200
диапазон перемещений по оси Z, ?m - 20
резонансная частота по осям XY, kHz 1 1
резонансная частота по оси Z, kHz - 30
минимальный шаг перемещения, nm 0.1  0.1
максимальное отклонение от нормали на полном ходу < 0.01° < 0.01°
максимальная скорость сканирования, Гц (линий/сек) 10 10
максимальная масса образца, g 100 100
рабочий температурный диапазон, °C ±40 ±40

Контроллер для пьезопозиционеров EG-1000

Предназначен для управления работой пьезопозиционеров, таких как  сканирующий столик Ratis и однокоординатная подвижка Vectis. 

Контроллер обеспечивает сбор информации с различных датчиков и выдает управляющие воздействия на пьезоэлектрические устройства позиционирования, кроме того, вся собранная информация отправляется на управляющий компьютер для последующей обработки и визуализации.

Общие характеристики:

  • Центральный процессор: 32 бит; RISC
  • Интерфейс с ПК: USB 2.0
  • Прочие интерфейсы: RS 232, RS485, SYNC I/O

Высоковольтные выходы:

  • Напряжение: -10..150 V
  • Шум: < 5 ppm
  • Число каналов: 3 
  • Разрядность ЦАП (цифро-аналоговые преобразователи): 8 бит

Приборы для исследования тонких плёнок, слоёв и порошков


Спектральный эллипсометр (спектроэллипсометр) "ЭЛЬФ"

Позволяет измерять толщины, спектры оптических постоянных и диэлектрических свойств нанопленок и слоев многослойных наноструктур. Может работать также в режиме спектрофотометра.

Сфера применения:

Спектроэллипсометр «Эльф» предназначен для определения оптических параметров материалов, толщины оптически прозрачных и полупрозрачных слоев в многослойных структурах, качества обработки и шероховатости поверхностей. Спектроэллипсометр «Эльф» может использоваться в научно-исследовательских и учебных целях, а также для осуществления контроля в промышленных лабораториях. 

Спектроэллипсометр «Эльф» соответствует требованиям всех действующих в РФ нормативов по безопасности. Обязательной сертификации прибор не подлежит.

Назначение прибора:

  • Определение толщин пленок и толщин слоев в тонкопленочных структурах (металлы, полупроводники и диэлектрики; твердые и жидкие пленки)
  • Определение спектров оптических постоянных материалов (металлы, полупроводники и диэлектрики; твердые и жидкие среды)
  • Исследование структуры материалов (процентное соотношение компонентов (фаз) в негомогенной системе, пористость, пространственная неоднородность, наличие дефектов и т.д).
  • Анализ состояния поверхности и структуры тонких поверхностных слоев
  • Прибор обеспечивает возможность построения пространственной карты любой из измеряемых характеристик. Карта строится вручную при помощи микрометрических винтов.
  • Прибор обладает возможностью работы в режиме фотометра

Технические характеристики:

  • Спектральный диапазон длин волн: 380 – 1050 нм
  • Спектральное разрешение: 2,5 - 4 нм в зависимости от установленной входной щели монохроматора.
  • Воспроизводимость и стабильность при измерении:
  • эллипсометрических параметров Ψ и Δ без   микроприставки в диапазоне длин волн 400-1000 нм -  не хуже 0,010,
  • толщины – не хуже 0,1 нм*)
  • показателя преломления – 0,005 *).
  • Диапазон устанавливаемых углов падения: 450 – 900 с интервалом 50
  • Диапазон измеряемых толщин: 0,1 нм – 5 мкм*)
  • Диаметр светового луча: 3 мм (200 мкм с микроприставкой)
  • Типичное время измерения на одной длине волны: 0.5-2 сек.
  • Дискретность измерений – до 400 точек на спектр.

*) Цифры приведены для тестовой системы SiO2/Si


Оборудование для исследования трибологических

свойств нано- и других материалов


Машина трения универсальная МТУ-01

Машина трения предназначена для проведения испытаний на трение и изнашивание металлических и неметаллических материалов в условиях, как сухого трения, так и использования различных смазочных материалов (масла и пластичные смазки).

Технические характеристики: 

  • Номинальное напряжение 220 В
  • Частота тока 50 Гц
  • Род тока питающей сети переменный, однофазный
  • Потребляемая мощность, не более 600 Вт
  • Скорость вращения образца без нагрузки, не более 2500 об/мин (Число оборотов меняется плавно)
  • Усилие прижима испытываемых образцов, в пределах 0-100 кг
  • Общий размер плоского образца ø50 мм  (из них зона трения ~ø30 мм)
  • Размер каждого из подвижных роликов (3 штуки) ø10 мм (для густой смазки  - 1 ролик ø20 мм)
  • Масса оборудования МТУ-01 не более: 35 кг

Приборы для исследования электрических

свойств нано- и других материалов


Установка для измерения электрических свойств

Позволяет измерять электропроводность и диэлектрическую проницаемость нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и в переменных полях. 

Комплект установки включает 2 прибора:

  • прецизионный цифровой измеритель RLC параметров;
  • мультиметр цифровой.

1. Измеритель RLC параметров

  • Измерение 16 параметров: комплексного сопротивления на переменном токе (R,Z,X),  сопротивления постоянному току (DCR), проводимости (G, Y, B), ёмкости, индуктивности, тангенса угла потерь, добротности, фазового сдвига. Скорость измерения: 25 мс/ 100 мс/ 333 мс (быстр./ сред./ медл.)
  • Параллельная/ последовательная схема замещения
  • Режим полярных координат: Z+фаз.сдвиг (θ)/ Y+фаз.сдвиг (θ)
  • Широкие функциональные возможности по сбору, анализу, отображению и хранению информации
  • Режим усреднение значения (1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128, 256)
  • Допусковый тест (Pass/Fail) в режимах: «абс. знач./Δ-изм/ %»
  • Табличные измерения (тест по 10 точкам «частота / напряжение/ ток»)
  • Плавная установка частоты тест-сигнала (ГРУБО/ ТОЧНО)
  • Большой графический ЖК-дисплей, разрешение 6 разрядов
  • Удобный одноуровневый пользовательский интерфейс
  • Доп. изм. аксессуары: съемные адаптеры, в т.ч. опция внешнего смещения (пост. напряжение ±45 В, ток ±2,5A /Bias box)
  • Разъем USB на передней панели для подключения флешки
  • Интерфейсы: RS-232 (SCPI), Handler (сортировщик)
  • Отображение на внешнем ПК графика измеряемых параметров с помощью штатного ПО (макс. 1.000 точек).

Технические характеристики                                                                                                                                             

  • Базовая погрешность: ±0,05 %
  • Электрическое сопротивление    от  0,01 мОм  до 100 МОм
  • Разрешение (R) 0,01 мОм
  • Электрическая емкость от 0,01 нФ до 10 Ф
  • Разрешение (C) 0,01 нФ
  • Индуктивность от 0,01 мГн до 10 кГн
  • Разрешение (L) 0,01 мГн
  • Частота тест сигнала 10 Гц – 100 кГц
  • Диапазон частот Не фиксированный
  • Уровень тест сигнала 10 мВ – 2 В, 100 мкА – 20 мА

2. Мультиметр цифровой 

Измеряет: DCV | ACV | DCA | ACA | Сопротивление | Емкость | Частота | Прозвон цепи | Проверка диодов

Технические характеристики

  • Напряжение постоянное 1000 В
  • Напряжение переменное 1000 В
  • Разрешение по напряжению 0,01 мВ
  • Ток постоянный 10 А
  • Ток переменный 10 А
  • Разрешение по току 10 мкА
  • Сопротивление максимум 40 МОм
  • Разрешение по сопротивлению 0,1 Ом
  • Емкость максимум 10000 мкФ
  • Разрешение по емкости 1000 пФ
  • Частота максимум 0,1 МГц
  • Разрешение по частоте 0,01 Гц
  • Базовая погрешность 0,09 %

Кондуктометр образцовый КПЦ-026Т

Переносной кондуктометр с проточно-погружным блоком датчиков, диапазон измерения УЭП от 40 нСм/см до 40 мСм/см, основная погрешность не более ±0,5% от измеренной УЭП, питание 220 В 50 Гц через блок питания 220VAC/6VDC или от гальванических элементов типа АА (4х1,5 В). 

Функциональный возможности:

  • Высокая точность измерений
  • низкая относительная погрешность измерений не более 0,5%; 
  • широкий диапазон измерений УЭП на одном блоке датчиков  - от глубоко
  • обессоленной воды до растворов с солесодержанием 20 г/кг; 
  • измерение и индикация УЭП

Легкое обслуживание:

  • малый расход пробы;
  • автоматический контроль загрязненности электродов датчика УЭП;
  • автоматическая диагностика и сигнализация неисправностей.
  • Простота калибровки: 
  • быстрая калибровка по эталонной УЭП и температуре; 
  • двойная термокомпенсация с учетом температурной зависимости УЭП чистой воды и примесей в растворе.

Особенности конструкции:

  • Надежность и долговечность
  • полностью герметичный IP67 датчик проточно-погружного типа;
  • платиновые электроды обеспечивают максимальную линейность измерительной характеристики;
  • выносной пульт для калибровки;
  • батарейное и сетевое питание.

Технические характеристики:

  • Диапазон измерений  УЭП: 40 нСм/см …40 мСм/см 
  • Погрешность измерений, не более: УЭП (относительная): ± 0,5 % 
  • Время работы от 4 гальванических элементов АА (500 мАч),  не менее: 500 ч 
  • Параметры пробы температура: +5…+95 °С
  • Расход при измерении в протоке: 1…30 л/ч
  • Габаритные размеры, не более: мм 300х120х110 
  • Масса, не более, кг 2,4
  • Напряжение питания, В 5,5±1

Мини-анализатор размеров частиц «Photocor Mini»

 

Предназначен для измерения размеров наночастиц в растворах и дисперсиях методом динамического рассеяния света.

  • Диапазон измерения размера частиц  от 1 нм до 10 мкм (зависит от оптических характеристик исследуемых образцов).
  • Типичная погрешность измерения: ±1%.
  • Объем образца: от 50 мкл до 4 мл.
  • Угол рассеяния: 90°.
  • Температура: погрешность измерения 0.1°С, без возможности терморегулирования.
  • Анализ сигналов: встроенный коррелятор Photocor-FC (USB интерфейс).
  • Фотоприемник: система счета фотонов на основе лавинного фотодиода
  • Лазер: диодный лазер, 638 нм, 15 мВт.
  • Размеры / вес / потребляемая мощность: 250 x 280 x 98 мм / 3.8 кг / 5В, 0.3А (питание от USB разъема или внешнего адаптера) 

Анализатор дзета-потенциала

ZetaPlus - это чрезвычайно простая и очень точная система для анализа электрофоретической подвижности частиц. Анализатор поддерживает функции анализа моно- и мульти-модальных распределений. Прибор идеально подходит для анализа дзета- потенциала частиц, суспендированных в водных средах с низким содержанием солей.

Отличительные особенности/преимущества Анализаторов дзета-потенциала ZetaPlus: 

  • Уникальная конфигурация ячейки полностью подавляет эффект электроосмоса
  • Может быть в любое время дооборудован системой для определения размеров частиц (модуль BI-MAS)
  • Не требует юстировки и калибровки
  • Анализ занимает не более нескольких секунд
  • Термостатирование образца от -5 до 110 оС
  • Оптимальное сочетание цены и производительности

Технические характеристики: 

  • Диапазон дзета-потенциала: -220 … 220 мВ 
  • Диапазон электрофоретической подвижности: 10-9 … 10-7 м2/В * с 
  • Воспроизводимость: ±3 % в большинстве случаев 
  • Максимальная концентрация образца: до 40 % по объему, зависит от природы образца 
  • Максимальная электропроводность образца: 7.5 мСм/см 
  • Диапазон размеров частиц: от 1 нм до 100 мкм, в зависимости от свойств образца 
  • Контроль температуры: от -5 до 110 оС, активный контроль температуры 
  • Угол регистрации светорассеяния: 15о 
  • Лазер: длина волны номинальная 660  

Остались вопросы, на которые нет ответа?

Свяжитесь с нами
Юридический адрес

Российская Федерация, г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
web сайт: nanotech.ru e-mail: info@nanomods.ru

Тендерный отдел

Российская Федерация,г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
e-mail: tender@nanomods.ru Тел.: +7 (499) 135-8090

Время работы:

понедельник - пятница: 09:00 - 18:00

суббота - воскресенье: выходной