сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля.

Модификация Certus NSOM S на базе сканирующего зондового микроскопа Certus Standard.

В состав Certus NSOM S входят:

  • сканирующая головка Certus с держателем зондов для атомно-силовой микроскопии;
Подробнее...

Centaur I – комплекс, сочетающий сканирующий зондовый микроскоп (атомно-силовой микроскоп), конфокальный микроскоп/спектрометр для получения спектров рамановского (комбинационного) рассеяния и флюоресценции и спектральных изображений, конфокальный лазерный микроскоп и оптический инвертированный микроскоп.

Позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ)

Подробнее...

Certus Standard – базовая конфигурация сканирующего зондового микроскопа Certus, предназначенная для решения широкого класса исследовательских и аналитических задач.

Основные параметры

1. СЗМ головка

1.1 Встроенный XYZ сканер 

  • Поле зрения СЗМ (диапазон сканирования): 200x200x15 μм
Подробнее...

Centaur Duos – комплекс, сочетающий сканирующий зондовый микроскоп (атомно-силовой микроскоп), конфокальный микроскоп/спектрометр для получения спектров рамановского (комбинационного) рассеяния и флюоресценции и спектральных изображений, конфокальный лазерный микроскоп и оптический прямой  и инвертированный микроскоп.

Для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии).

Области применения Centaur Dous: 

  • химия. Комбинация методов сканирующей
Подробнее...

Certus Optic U – сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии.

Подробнее...

Для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии).

Преимущества Centaur U:

  • совместная работа сканирующего основания
Подробнее...

Centaur I HR - комплекс, сочетающий сканирующий зондовый микроскоп, конфокальный микроскоп/спектрометр с двойной дисперсией для получения спектров рамановского рассеяния и флюоресценции и спектральных изображений, конфокальный лазерный микроскоп и оптический инвертированный микроскоп. Для проведения комплексных исследований свойств поверхности методами оптической микроскопии, спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. 

Преимущества Centaur I HR:

  • совместная работа сканирующего основания
Подробнее...

Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 представляет собой атомно-силовой микроскоп (АСМ) в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и

Подробнее...

Остались вопросы, на которые нет ответа?

Свяжитесь с нами
Юридический адрес

Российская Федерация, г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
web сайт: nanotech.ru e-mail: info@nanomods.ru

Тендерный отдел

Российская Федерация,г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
e-mail: tender@nanomods.ru Тел.: +7 (499) 135-8090

Время работы:

понедельник - пятница: 09:00 - 18:00

суббота - воскресенье: выходной