сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), оснащенный специализированными держателями зондов и необходимым оптическим оборудованием для проведения исследований с использованием эффекта ближнего поля.

Модификация Certus NSOM S на базе сканирующего зондового микроскопа Certus Standard.

В состав Certus NSOM S входят:

  • сканирующая головка Certus с держателем зондов для атомно-силовой микроскопии;
  • специализированный держатель зондов для микроскопии ближнего поля;
  • видеомикроскоп;
  • оптический блок;
  • интегрированный подвижный столик для образца;
  • единый СЗМ контроллер EG-3000;
  • программное обеспечение NSpec.

Микроскоп Certus NSOM S позволяет использовать методики ближнепольной оптической микроскопии основанные на отражении света от поверхности или зондов. Сканирование по XYZ проводится только зондом.

Модификация Certus NSOM O на базе комплекса Certus Optic.

В состав Certus NSOM O входят:

  • сканирующая головка Certus с держателем зондов для атомно-силовой микроскопии;
  • специализированный держатель зондов для микроскопии ближнего поля;
  • устройство позиционирования и сканирования Ratis;
  • классический оптический микроскоп (прямой или инвертированный);
  • Z – подвижка для объектива;
  • оптический блок;
  • устройство позиционирования образца;
  • единый СЗМ контроллер EG-3000;
  • программное обеспечения NSpec.

Комплекс Certus NSOM O позволяет использовать методики ближнепольной оптической микроскопии основанные как на отражении света от поверхности, так и на прохождении излучения через образец. Реализованы два режима сканирования. Сканирование зондом по XYZ сканирующей головкой Certus и сканирование образцом по XY сканирующим основанием Ratis и детектированием сигнала по Z с использованием СЗМ головки.

Кроме того, данный комплекс работает в режиме лазерного конфокального микроскопа при сканировании по XY образцом.

Модификация Certus NSOM для комплексов Centaur (HR).

Так же, на базе СЗМ головки Certus NSOM для комплексов Centaur (HR) в качестве дополнительной опции реализованы методики ближнепольной оптической микроскопии с использованием апертуры. Безапертурные методики реализованы в этих комплексах по умолчанию.

 

Остались вопросы, на которые нет ответа?

Свяжитесь с нами
Юридический адрес

Российская Федерация, г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
web сайт: nanotech.ru e-mail: info@nanomods.ru

Тендерный отдел

Российская Федерация,г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
e-mail: tender@nanomods.ru Тел.: +7 (499) 135-8090

Время работы:

понедельник - пятница: 09:00 - 18:00

суббота - воскресенье: выходной