Certus Optic U – сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии.

В состав Certus Optic U входят:

  • сканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; 
  • устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом;
  • прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа;
  • механическая Z-подвижка для объектива;
  • однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений;
  • устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; 
  • единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса;
  • программное обеспечение NSpec.

Преимущества Certus Optic U:

  • cканирующее основание Ratis (XY(Z) сканер) позволяет позиционировать объект исследований с точностью до нескольких долей нанометра;
  • cканирующая XYZ головка Certus позволяет установить зонд сканирующего зондового микроскопа точно над выбранным участком;
  • два режима сканирования. Сканирование образцом и сканирование основанием. В общем случае сканирование по XY проводится основанием, а по Z сканирующей головкой (опционально в комплекс устанавливается XYZ сканирующее основание);
  • cканирующая головка и основание – плоскопараллельные сканеры, лишенные традиционных искажений изображения при использовании сканера на пьезотрубках;
  • механическая подвижка для объектива и пьезоподвижка для точной фокусировки позволяют проводить точную фокусировку;
  • возможность получения 3D оптических изображений;
  • интеграция с прямым оптическим микроскопом позволяет проводить исследования непрозрачных образцов методиками на отражение света (опционально устанавливается подсветка для прозрачных образцов), использовать необходимые оптические методики исследования для выделения интересных с точки зрения исследователя объектов и наведения на них иглы СЗМ. В качестве оптического микроскопа может выступать продукция Olympus, Nikon и других производителей. Так же возможна интеграция СЗМ с уже имеющимися у исследователя микроскопами;
  • подставка снабжена независимыми системами позиционирования образца и головки, что позволяет проводить "грубое" позиционирование образца для выделения необходимой области или позиционирование сканирующей головки для наведения на объект исследования;
  • модульная конфигурация и открытый дизайн, позволяющие интегрировать Certus Optic с другим оптическим и спектральным оборудованием. 

Основные параметры

1. СЗМ

1.1   СЗМ головка

  • Встроенный XYZ сканер 
  • Поле зрения СЗМ (диапазон сканирования), μм: 100x100x15
  • Резонансные частоты XY, кГц: 1
  • Резонансные частоты Z, кГц: 7
  • СЗМ пространственное разрешение (XY, латеральное), нм: <1
  • СЗМ пространственное разрешение (Z, вертикальное), нм: <0.1
  • Остаточная нелинейность: <0.3%
  • Датчики перемещения
  • Тип датчиков: ёмкостные
  • Принцип измерения: время-цифровые преобразования   
  • Система подвода сканирующей головки
  • Минимальный шаг, μм: 1
  • Реализация системы подвода сканирующей головки: шаговые двигатели
  • Число шаговых двигателей: 3

1.2 Сканирующее основание

  • Встроенный XY плоско-параллельный сканер
  • диапазон сканирования/позиционирования XY(Z), μм:      100x100 (25 для Z- опционально)
  • Резонансные частоты XY(Z), кГц: 1  (7 - для Z)
  • Остаточная нелинейность: ≤0.3%
  • Датчики перемещения
  • Тип датчиков: ёмкостные
  • Принцип измерения: время-цифровые преобразования

1.3 Позиционирование образца: 

  • Диапазон "грубого" позиционирования образца, мм: 5x5 
  • Реализация системы "грубого" позиционирования: микровинты
  • Точность позиционирования, μм: ~ 5

2 Оптический микроскоп

2.1 Тип, марка и комплектация микроскопа

  • В базовой конфигурации установлен прямой оптический микроскоп Olympus BX 51

3 Позиционирование объектива

3.1 Грубое позиционирование

  • Реализация системы грубого позиционирования: механическая однокоординатная подвижка
  • Диапазон: 100 мм
  • Автоматизация: полное управление с компьютера

3.2 Точное позиционирование

  • Реализация системы точного позиционирования: однокоординатная пьезоподвижка
  • Диапазон перемещений, μm: 60
  • Резонансная частота, kHz: 0.5
  • Минимальный шаг перемещения, nm: 0.1
  • Максимальное отклонение от нормали на полном ходу: < 0.01°
  • Автоматизация: полное управление с компьютера с режимом автофокусировки

 

Остались вопросы, на которые нет ответа?

Свяжитесь с нами
Юридический адрес

Российская Федерация, г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
web сайт: nanotech.ru e-mail: info@nanomods.ru

Тендерный отдел

Российская Федерация,г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
e-mail: tender@nanomods.ru Тел.: +7 (499) 135-8090

Время работы:

понедельник - пятница: 09:00 - 18:00

суббота - воскресенье: выходной