Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 представляет собой атомно-силовой микроскоп (АСМ) в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и

субмикрорельефа  поверхностей, объектов микро- и нанометрового размерного диапазона, их микромеханических и других свойств с высоким разрешением.

Bcтроенная видеосистема в сочетании с автоматизированнойv платформой микроперемещений обеспечивают удобство настройки прибора и возможность точно выбирать область измерений на поверхности образца, что качественным образом повышает функциональность прибора при работе с микрообъектами.

В зависимости от специфики исследовательских задач АСМ NT-206 может комплектоваться специализированными сменными модулями для проведения микротрибометрических и адгезиометрических измерений или наноиндентирования.

Режимы измерений: (Режимы движения при измерениях: - по участку; - по линии; - в отдельной точке):

1. Контактная статическая АСМ

2. Латерально-силовая микроскопия /одновременно с контактной статической АСМ/

3. Бесконтактная динамическая АСМ

4. Полуконтактная динамическая АСМ (аналог Tapping Mode®)

5. Микроскопия фазового контраста /одновременно с полуконтактной динамической АСМ/

6. Двухпроходный режим (для статической и динамической АСМ)

7. Двухпроходный режим с переменным подъемом (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/

8. Многоцикловое сканирование участка (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/

9. Многослойное сканирование участка с переменной нагрузкой (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/

10. Электростатическая силовая микроскопия (двухпроходная методика) *, **

11. Токовый режим *, **

12. Магнитно-силовая микроскопия (двухпроходная методика) *, **

13. Статическая силовая спектроскопия (с расчетом количественных характеристик, поверхностной энергии и модуля упругости образца в точке анализа)

14. Динамическая силовая спектроскопия

15. Динамическая частотная силовая спектроскопия /Оригинальная методика!/

16. Наноиндентирование *

17. Наноцарапание *

18. Наноизнашивание по линии *

19. Нанолитография (с контролем <i> прижатия, <ii> глубины внедрения, <iii> напряжения смещения) *

20. Микротрибометрия * /Оригинальная методика!/

21. Микроадгезиометрия * /Оригинальная методика!/

22. Микротрибометрия в режиме shear-force * /Оригинальная методика!/

23. Температурно-зависимые измерения (для всех вышеперечисленных режимов) *

Примечание. 

* - требуется использование специализированной оснастки

** - требуется использование специализированных зондов

Технические характеристики:

  • Поле сканирования: от 5х5 мкм до 90x90 мкм
  • Максимальный диапазон измерения высот: от 2 до 4 мкм
  • Латеральное разрешение (плоскость XY): 1–5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов)
  • Вертикальное разрешение (направление Z): 0,1–0,5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов)
  • Размер матрицы сканирования: до 1024x1024 точек
  • Скорость сканирования: 40–250 точек/с в плоскости X-Y
  • Коррекция нелинейностей: программная коррекция движения сканера
  • Минимальный шаг сканирования: 0,3 нм
  • Схема сканирования: подвижный образец под неподвижным зондом.
  • Образец перемещается в плоскости X-Y (горизонтальной) и в Z-направлении (вертикальном) под неподвижным зондом.
  • Тип сканнера: пьезокерамический трубчатый. 
  • Зонды: промышленно выпускаемые зонды (чипы размером 3.4x1.6x0.4 мм). Рекомендуются зонды Mikromasch или NT-MDT. Применимы также зонды BudgetSensor и Nanosensors
  • Система детектирования отклонения измерительной консоли: Лазерно-лучевая с четырехсекционным позиционно-чувствительным фотодетектором
  • Размеры образца: до 30x30x5 мм (ш–г–в); при использовании дополнительной промежуточной вставки допускается измерение образцов высотой до 35 мм.
  • Выходное напряжение высоковольтного усилителя: +190 В 
  • АЦП: 16 bit
  • Условия работы:  открытый воздух, 760+40 мм рт. ст., 22+4°С, относительная влажность <70%
  • Диапазон автоматизированных перемещений измерительной головки: 10x10 мм в плоскости XY для микропозиционирования зонда относительно исследуемого объекта с шагом 2,5 мкм с оптическим визуальным контролем. 

Габариты:

  • Блок сканирования (с видеокамерой): 185x185x290 мм
  • Блок электроники управления: 360x420x220 мм
  • Поле обзора встроенной видеосистемы: 1x0.75 мм, размер окна визуализации 640x480 пиксел.
  • Виброизоляция: рекомендуется дополнительный антивибрационный стол или подвес
  • Управляющий компьютер: не хуже, чем: Celeron® 2.2, RAM 256 MB, HDD 80 GB, VRAM 128 MB, monitor 1024x768x32 bit, Windows® XP SP1, 2 USB port.
  • Рекомендуется: Core i5 or equivalent, RAM 2 GB, HDD 320 GB, VRAM 1 GB, monitor 1600x1200x32 bit, Windows® XP SP2 or higher, 2 free USB port.

 

Остались вопросы, на которые нет ответа?

Свяжитесь с нами
Юридический адрес

Российская Федерация, г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
web сайт: nanotech.ru e-mail: info@nanomods.ru

Тендерный отдел

Российская Федерация,г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
e-mail: tender@nanomods.ru Тел.: +7 (499) 135-8090

Время работы:

понедельник - пятница: 09:00 - 18:00

суббота - воскресенье: выходной