Комплекс Centaur I разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной

спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения.  Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.). 

В состав Centaur входят:

  • Сканирующий зондовый микроскоп;
  • Прямой или инвертированный оптический микроскоп;
  • Лазерный конфокальный микроскоп;
  • Конфокальный микроскоп/спектрометр комбинационного рассеяния;
  • Флюоресцентный конфокальный микроскоп/спектрометр

Области применения Centaur I: 

  • Химия: Комбинация методов сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии), оптической микроскопии, пектроскопии комбинационного (рамановского) рассеяния или флюоресцентной спектроскопии озволяет проводить анализ состава и структуры органических и неорганических веществ, традиционных и композитных материалов, получать распределение в поверхности и/или объёме различных соединений и сопоставлять особенности морфологии образцов со спектральными данными;
  • Физика: Исследование физических характеристик поверхности и приповерхностных слоёв веществ и материалов;
  • Биология: Изучение тканей, клеток и их структур, биологических молекул и их взаимодействий. Исследования в области взаимодействия имплантатов с биологическими объектами;
  • Междисциплинарные исследования: Исследования в области нанотехнологий, фармацевтики, материаловедения, минералогии, еологии, геммологии, криминалистики, анализа предметов искусства и многих других.

Преимущества комплекса Centaur:

  • Два независимых сканера (сканирующая головка и сканирующее основание;
  • Одновременное получение нескольких сигналов (конфокальное и спектральное изображение, топография, “фаза“ и другие);
  • Получение спектра флюоресценции или КР в каждой точке поверхности сканирования;
  • интеграция с прямыми или инвертированными оптическими микроскопами для работы с прозрачными и не прозрачными образцами;
  • Единый контроллер и программное обеспечение для полноценной совместной работы оборудования входящего в состав Centaur (HR).

Основные параметры 

1 СЗМ пространственное разрешение (XY, латеральное) <1 nm 

2 СЗМ пространственное разрешение (Z, вертикальное) <0.1 nm

3 Поле зрения СЗМ (диапазон сканирования по XY) при сканировании зондом: 100х100 μm 

4 Поле зрения СЗМ (диапазон сканирования по XY) при сканировании образцом: 100x100 μm 

5 Диапазон СЗМ по Z 15 μm

6 Остаточная нелинейность <0.3%

7 Оптическое пространственное разрешение в режиме конфокального микроскопа   ~2/3 λ 

8 Поле зрения в режиме конфокального микроскопа 100x100 μm

9 Спектральное разрешение: 

  • с решеткой 200 линий/мм 1.45 nm 
  • с решеткой 600 линий/мм 0.45 nm 
  • с решеткой 1200 линий/мм 0.22 nm

10 Спектральный диапазон: 

  • с решеткой 200 линий/мм 330  - 1300  nm 
  • с решеткой 600 линий/мм 400  - 1200  nm 
  • с решеткой 1200 линий/мм 400  -  870   nm

11 Светопропускание в спектральном диапазоне ≥ 60%

12 Отношение «сигнал/шум» в максимуме спектров люминесценции (для сигнала люминисценции красителя с квантовым выходом не менее 50% при концентрации 10-5 моль/литр и сдвиге максимума линии люминесценции относительно максимума линии возбуждения не менее 5 нм). ≥100

13 Отношение «сигнал/шум» в максимуме спектров комбинационного рассеяния (для сигнала комбинационного рассеяния с силой осциллятора молекулы бензола на частоте 607 см-1 и частотном сдвиге не менее 200 см-1) ≥100000

 

Остались вопросы, на которые нет ответа?

Свяжитесь с нами
Юридический адрес

Российская Федерация, г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
web сайт: nanotech.ru e-mail: info@nanomods.ru

Тендерный отдел

Российская Федерация,г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
e-mail: tender@nanomods.ru Тел.: +7 (499) 135-8090

Время работы:

понедельник - пятница: 09:00 - 18:00

суббота - воскресенье: выходной