Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов.

Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений.

В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика.

Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Спецификация базовой конфигурации

XY разрешение в АСМ: < 1 нм

Z разрешение в АСМ: <0.1 нм

Диапазон сканирования: 100x100x15 мкм

Спектральный диапазон изм. вторичного спектра: 100..5000 см-1

Спектральное разрешение: <1 см-1

Светопропускание: >80%

Лазеры возбуждения: 532 нм

Базовый детектор ПЗС матрица Andor iVac 324 FI

Размер, пиксели: 1560x200 пикселей

Размер пиксела: 16 mkm

Охлаждение: до -60o

Шум чтения: 5.8 e

Темновой ток: 0.0028 e/пикс/сек

Мах скорость: 269 спектров/сек

Базовый монохроматор  Andor Shamrock 500 i

Фокальное расстояние: 500 мм 

Дифракционные решетки: 

150 штр/мм: ДВ блеска = 500 нм  разрешение = 0.52 нм

600 штр/мм: ДВ блеска = 500 нм,  Разрешение = 0.13 нм 

1800 штр/мм: ДВ блеска = 380 нм,  Разрешение = 0.04 нм 

Входная диафрагма (щель): постоянная 100 мкм

Базовый Лазер Cobolt

Тип:NdYg

Длина волны:532.8 нм

Мощность: 25 мВт 

Ширина линии: < 1 pm 

Базовый Оптический Микроскоп Olympus BX51

Cистема освещения образца: диодная 

Мощность диода: 100Вт

Тип освещения на отражение: Kohler  

Окуляры: широкопольные окуляры с 10х/24 mm, скорректированные на бесконечность 

Межзрачковое расстояние: 50-70 mm 

Тринокуляр с селектором оптического пути: делительная призма 0:100, 50:50

Система фокусировки: автоматизированная 

Точность системы фокусировки: 100 нм

Камера для видео наблюдения Moticam 2X

Диагональ: тип 1/2” CMOS

Разрешение матрицы камеры, px: 2500x1800

Глубина оцифровки: 12 бит

Размер пикселя: 2.5 мкм 

Интерфейс: WiFi  

Блок микрообъективов

Тип: турель на 4 объектива  

Объектив 1: SLMPLN 50X

Увеличение: 50x 

N.A.: 0.35   

WD: 18 мм

Объектив 2: MPLFLN 100X

Увеличение: 100x  

N.A.: 0.9  

WD: 1 мм

Позиционирование образца

Тип: автоматизированная XYZ

Диапазон: 10x10x10мм

Точность: 1мкм

Позиционирование СЗМ головки

Тип: автоматизированная XY

Диапазон: 10x10мм

Точность: 1мкм

Система сканирования образцом для получения оптических, СЗМ изображений

Тип: плоский XYZ stage

Диапазон прецизионного сканирования: 80μmx80μmx15 μm  

Пространственное разрешение: < 0.01нм   

Точность перемещения: < 1нм  

Остаточная нелинейность: <1% 

Датчики перемещения:

Тип датчиков: оптические интерференционные, абсолютная линейность, точность менее  1 нм , скорость опроса 300 кНz, встроенная функция авто калибровки.

Модуль Сканирующего зондового микроскопа, СЗМ головка

Световой детектор отклонения: четырех секционный диод 

Юстировка лазера на балку кантилевера: 2 микровинта с шагом 0.125 мм 

Юстировка диода: 2 микровинта с шагом 0.125 мм 

Держатель кантилеверов: съемный, исполнение по типу SIM карта 

Встроенный пьезо для раскачки: -10..+10В, 0..10МГц  

Остались вопросы, на которые нет ответа?

Свяжитесь с нами
Юридический адрес

Российская Федерация, г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
web сайт: nanotech.ru e-mail: info@nanomods.ru

Тендерный отдел

Российская Федерация,г. Москва,
ул. Бардина, д.4, стр. 1
e-mail: tender@nanomods.ru Тел.: +7 (499) 135-8090

Время работы:

понедельник - пятница: 09:00 - 18:00

суббота - воскресенье: выходной